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J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS中國總代CAF離子遷移測試裝置ECMr-500（2026年發(fā)布）集成兩大經(jīng)典機型優(yōu)勢，支持最高500V遷移測試與16ms高速采樣。采用高邊測量方式，實現(xiàn)高效樣品連接。提供40/100通道機箱，電阻測量范圍2kΩ～10TΩ，電壓設(shè)定分辨率0.1V，電流測量最*達p*級精度。適用于高可靠性離子遷移分析。