離子遷移測(cè)試裝置（CAF）

簡(jiǎn)要描述：ECM-100離子遷移測(cè)試裝置（CAF）是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）。

更新時(shí)間：2025-12-03
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廠商性質(zhì)：代理商
產(chǎn)品型號(hào)：ECM-100

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離子遷移測(cè)試裝置（CAF）（Ion Migration Test Device）用于測(cè)試電子產(chǎn)品中的材料是否存在離子遷移現(xiàn)象。其原理是在加速電場(chǎng)的作用下，使樣品中的離子遷移到對(duì)面的電極上，從而檢測(cè)出樣品中是否存在離子遷移。

通常該裝置由兩個(gè)電極、電源、電壓控制器和采樣器等部分組成。樣品被放置在兩個(gè)電極之間，然后施加電場(chǎng)并記錄電流隨時(shí)間的變化情況。如果電流隨時(shí)間逐漸增加，則說(shuō)明樣品中可能存在離子遷移現(xiàn)象。

離子遷移測(cè)試裝置（CAF）主要用于評(píng)估電子產(chǎn)品中使用的材料是否能夠滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)的要求，以確保產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

ECM-100離子遷移測(cè)試裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）。

ECM-100離子遷移測(cè)試裝置產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

簡(jiǎn)單/便利

△采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè)，測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少。

△軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了，能夠非常直觀得操作。

△配有過(guò)程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。

△測(cè)試中，設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行，電腦電源切斷也不受影響。

高性能&高機(jī)能

△因?yàn)槊總€(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測(cè)電路，可以做到16ms的計(jì)測(cè)間隔。

→遷移現(xiàn)象的檢測(cè)能力更高，對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

△一臺(tái)電腦可以增設(shè)400通道。

△每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。

可靠性更高&操作更簡(jiǎn)潔