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導(dǎo)通電阻試驗裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。 離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHO

J-RAS中國總代高壓離子遷移ECMr系列：ECMr-1000高壓絕緣可靠性測試儀，支持最高2kV電壓輸出，每通道可獨(dú)立設(shè)置5V～2kV。采用高邊測量與全通道同步采樣，遇漏電或短路可快速關(guān)斷。具備緊急停止、聯(lián)鎖等多重安全機(jī)制，可不依賴PC獨(dú)立測試，數(shù)據(jù)存儲于CF卡。機(jī)身小巧，單臺最大100通道，一臺PC可擴(kuò)展控制400通道（支持與ECMr-500混搭），適用于高壓絕緣可靠性評估。

J-RAS 離子遷移導(dǎo)通電阻RTm系列中國總代理RTm-100記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS中國總代CAF離子遷移測試裝置ECMr-500（2026年發(fā)布）集成兩大經(jīng)典機(jī)型優(yōu)勢，支持最高500V遷移測試與16ms高速采樣。采用高邊測量方式，實現(xiàn)高效樣品連接。提供40/100通道機(jī)箱，電阻測量范圍2kΩ～10TΩ，電壓設(shè)定分辨率0.1V，電流測量最*達(dá)p*級精度。適用于高可靠性離子遷移分析。