Hast試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
廣泛應用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。
加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
該設(shè)備作為檢測設(shè)備，怎樣保證試驗箱本身的穩(wěn)定性?Hast試驗箱作為高標準、嚴要求的檢測設(shè)備，所以如何確保設(shè)備本身的穩(wěn)定性成為企業(yè)發(fā)展的重中之重，今天就告訴各大企業(yè)保證設(shè)備穩(wěn)定性三大要素。
一、選材
企業(yè)在制作Hast試驗箱時一定要選擇高品質(zhì)、高規(guī)格的材料。HAST老化試驗箱本來屬于溫度產(chǎn)品，那么所選材料必須要耐高低溫，抗老化。
二、零部件
一款穩(wěn)定性高的HAST老化試驗箱的零部件，無疑是使用了進口品牌。普通的零部件質(zhì)量無法得到保障，若是一臺檢測儀器零部件總是出現(xiàn)損壞，設(shè)備壽命也將大打折扣。
三、出廠之前的檢測
在Hast試驗箱出廠之前，一個注重品質(zhì)的企業(yè)，應當對設(shè)備做一個出廠檢測，測試產(chǎn)品的穩(wěn)定性，記錄數(shù)據(jù)。時間應在三天或者一星期左右，只有確保無疑之后，才可發(fā)貨，
Hast試驗箱作為檢測設(shè)備，必須要保證本身的穩(wěn)定性。因此，設(shè)備本身所用的一切材料配件都必須能經(jīng)得起試驗箱的考驗。
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